300GHz~1Hz(超高周波/ミリ波/マイクロ波/超低周波)のキーコム
ご要望に応じて少量から設計・製作・測定 致します。

Sパラメータ方式 低周波用
開放同軸反射法
比誘電率、誘電正接 (Dk, Df/ εr', tanδ) 
測定装置・システム

Model No. DPS12
低周波帯測定!! 
静電容量法で誘電率、誘電正接を1GHzまで測定しようとすると、正しく測れないことから、連続的に測定できる低周波帯用の誘電率測定装置を開発いたしました。
原理上、試料と治具の間に隙間ができるため精度は落ちますが、この手法しか測定できない帯域をカバーします。

※透磁率を測定されたい場合には、 磁性材料測定システム PER01 をご利用ください。

仕様

測定周波数 1MHz-1GHz
比誘電率 測定範囲: 2-200     
Accuracy( 繰り返し精度):  ±3% (ネットワークアナライザの精度に依存する)
繰り返し精度+真の値に対する正確度: ±10% (測定理論および治具の設計に依存する)
※但し、試料加工精度による。
誘電正接 測定範囲: 0.01-10  
繰り返し精度: ±6% (ネットワークアナライザの精度に依存する)
繰り返し精度+真の値に対する正確度: ±20% (測定理論および治具の設計に依存する)
※但し、試料加工精度による。
試料の大きさ 外径6.93~ 6.96φ 内径3.06~ 3.10φ
※但し、試料加工精度による。

オーダー情報 - Model No. および 部品番号(もしくはご要望) をお知らせください

品名 詳細 部品番号
開放同軸反射法複素誘電率測定ジグ   DPS12-JIG01A
固定台 共通固定台(磁性体測定システムと共通) BS-01A
試料打抜き具 GPC7用 CGPC7
計算ソフトウエア(Windows対応) 開放同軸反射法複素誘電率測定プログラム DPS12-DMP01A
単層タイプ/多層タイプ 電波吸収体・反射減衰量 シミュレーションソフト 計測した複素εrとμrから、任意の厚さの単層である電波吸収材料の反射減衰量をシミュレーション可能 DMP-70
測定用同軸ケーブル 1本 CM06D-SMA(m)SMA(m)-1000
GPIB接続ケーブル   GP-01
ベクトルネットワークアナライザ お持ちでない場合には、御見積りいたします。お持ちの場合には、型番をお知らせ下さい VNA
Windows ノートPC
(セッティングサービス および 使用方法説明込)
  CP

該非判定

非該当